FR-InLine 是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以依據各種不同應用設置多個參數的實時測量，例如：反射率和透射率光譜、厚度、色座標。 FR-InLine 膜厚儀測量軟件可以在標準 Windws 10/11 中執行。

FR-Ultra是一種緊湊型設備，專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。

FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統。

顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。

硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) 。